Книжный каталог

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Перейти в магазин

Сравнить цены

Описание

Первое в России издание по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемых в условиях крупносерийного микроэлектронного произв.

Сравнить Цены

Предложения интернет-магазинов
В. П. Дьяконов Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике В. П. Дьяконов Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике 639 р. litres.ru В магазин >>
Сергей Зайцев Микроострия. Свойства, изготовление, применение Сергей Зайцев Микроострия. Свойства, изготовление, применение 20 р. litres.ru В магазин >>
Афонский А., Дьяконов В. Измерительные приборы и массовые электронные измерения Афонский А., Дьяконов В. Измерительные приборы и массовые электронные измерения 1155 р. chitai-gorod.ru В магазин >>
Весы-чашка электронные Bradex «Абсолют» Весы-чашка электронные Bradex «Абсолют» 1351 р. top-shop.ru В магазин >>
Laica MD6141 Laica MD6141 3780 р. housebt.ru В магазин >>
Галперин В., Данилкин Е., Мочалов А. Процессы плазменного травления в микро- и нанотехнологиях. Учебное пособие Галперин В., Данилкин Е., Мочалов А. Процессы плазменного травления в микро- и нанотехнологиях. Учебное пособие 341 р. chitai-gorod.ru В магазин >>
Ободовский И. Радиационные технологии. Применения в лабораторных исследованиях, материаловедении и нанотехнологиях, промышленности Ободовский И. Радиационные технологии. Применения в лабораторных исследованиях, материаловедении и нанотехнологиях, промышленности 1547 р. chitai-gorod.ru В магазин >>

Статьи, обзоры книги, новости

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике, цена 1 155 руб, купить в Волгограде

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

По всем вопросам обращайтесь через обратную связь. Все данные на сайте взяты из открытых источников. Сайт для посетителей 18+

Источник:

components.electro.psyfiles.ru

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике (2011) PDF - 15 Декабря 2014 - Блог - Музыка, программы и онлайн фильмы

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Войти через uID

гр.Казино - Казино 2017

гр.Казино - Иер рушар 2017

гр.Гияр - Ширин ширин

гр.Самур - Чан гада

Эрик Бабаев - Азиза

Мая Алимутаева - Самый лучший на земле

Автор: Афонский А.А., Дьяконов В.П.

Год выпуска: 2011

Жанр: Техническая литература, Электроника

Издательство: ДМК Пресс

Количество страниц: 688

Размер файла: 46 MB

Скачать Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике (2011) PDF:

Источник:

kudav.ru

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Автор: Афонский А. А., Дьяконов В. П.

Издательство: ДМК Пресс

Благодарности и адреса для переписки

1. Средства и объекты нанотехнологий

1.1. Переход от микротехнологии к нанотехнологии

1.2. Электронная и рентгеновская микроскопия

1.3. Компоненты интегральных микросхем

1.4. Интегральные микросхемы

1.5. Чудеса нанотехнологий

1.6. От фантастики к практике

2. Измерения на постоянном токе

2.1. Основные компоненты электронных схем

2.2. Источники электропитания и их имитаторы

2.3. Измерение параметров резистивных компонентов

2.4. Измерение сверхмалых постоянных токов и напряжений

2.5. Аксессуары, опции и средства интеграции приборов

2.6. Анализатор/источник постоянных напряжений Agilent № 6705A

3. Измерения на переменном токе

3.1. Основные параметры переменного напряжения и тока

3.2. Измерение параметров переменного напряжения и тока

3.3. Параметры реактивных компонентов и цепей с ними

3.4. Измерение параметров реактивных компонентов

4. Измерительные генераторы сигналов

4.1. Аналоговые генераторы синусоидальных сигналов

4.2. Основы цифрового синтеза частоты и формы сигналов

4.3. ГСС с цифровым синтезом умеренной сложности

4.4. Векторные генераторы синусоидальных сигналов

4.5. Импульсные сигналы и принципы их генерации

4.6. Генераторы импульсов сверхмалой длительности

4.7. Аналоговые функциональные генераторы

4.8. функциональные генераторы с цифровым синтезом выходных сигналов

4.9. Генераторы серии AFG3000 компании Tektronix

4.10. Программное обеспечение генераторов AFG3000

4.11. Программа Nl Signal Express Tektronix Edition

4.12. Генераторы сигналов произвольной формы класса AWG

4.13. Генераторы цифровых сигналов произвольной формы (паттернов)

5. Современные электронные осциллографы

5.1. Закат аналоговой осциллографии

5.2. Основы построения и работы цифровых запоминающих осциллографов

5.3. «Бюджетные» цифровые запоминающие осциллографы

5.4. Цифровые осциллографы компании Tektronix

5.5. Цифровые осциллографы фирмы LeCroy

5.6. Цифровые осциллографы фирмы Agilent Technologies

5.7. Стробоскопические осциллографы

6. Искусство осциллографии

6.1. Аксессуары осциллографов и их применение

6.2. Согласованные широкополосные устройства

6.3. Активные осциллографические пробники

6.4. Специальные устройства подключения и фиксации пробников

6.5. Импульсная рефлектоскопия и рефлетометрия

6.6. Спектральный анализ с помощью цифровых осциллографов

6.7. Другие возможности современных осциллографов

6.8. Применение системы MATLAB

6.9. Математические операции с сигналами

6.10. Спектральный анализ реальных осциллограмм в MATLAB

6.11. Вейвлет-анализ реальных осциллограмм в MATLAB

7. Анализаторы сигналов, спектра и цепей

7.1. Введение в осциллографические анализаторы

7.2. Гетеродинные и векторные анализаторы спектра

7.3. Серийные цифровые анализаторы спектра

7.4. Анализаторы спектра реального времени

7.5. Примеры работы с анализатором Tektronix RSA 6114А

7.6. Анализаторы сигналов и источников сигналов

7.7. Векторные и скалярные анализаторы цепей

7.8. Аксессуары для анализаторов спектра

8. Последовательные и логические анализаторы, осциллографы смешанных сигналов

8.1. Последовательные анализаторы сигналов

8.2. Анализ логических состояний

8.3. Современные логические анализаторы

8.4. Осциллографы смешанных сигналов

8.5. Подключение логических анализаторов к испытуемому устройству

9. Исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

9.1. Основы измерения статических параметров полупроводниковых приборов

9.2. Источники/измерители фирмы Keithley для тестирования полупроводниковых приборов и микросхем

9.3. Снятие характеристик полевых транзисторов

9.4. Анализатор/характериограф силовых полупроводниковых приборов Agilent В1501А

9.5. Измерение радиочастотных параметров полупроводниковых приборов и микросхем

9.6. Измерение дифференциальных параметров

9.7. Измерения временных параметров полупроводниковых приборов

9.8. Тестирование интегральных микросхем

10. Измерение параметров оптико-электронных приборов

10.1. Типы, конструктивные особенности и назначение оптико-электронных приборов

10.2. Тестирование излучателей светового излучения

10.3. Тестирование импульсных лазерных излучателей

10.4. Тестирование фотодиодов и фототранзисторов

10.5. Исследование высокоскоростных излучателей и приемников света

10.6. Испытание световолоконных кабелей и линий передачи

10.7. Основы электронно-лазерной осциллографии

Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.

Источник:

yarfoto.ru

Электронно-библиотечная система IPRbooks

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике
  • .
  • Техника. Технические науки
  • 32 Радиоэлектроника
  • 32.84 Общая радиотехника

Чтение online Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике

Данное издание доступно Вам взамен изданию «Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике» издательства «ДМК Пресс».

Замена издания связана с окончанием срока лицензии и невозможностью продления прав, а также с появлением в базе более актуального издания по данной тематике.

Библиографическая запись Об издании Рекомендуем

Издательство: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана

Автор: Илюхин И.М.

Год издания: 2011

Издательство: Оренбургский государственный университет, ЭБС АСВ

Автор: Каменев С.В., Марусич К.В.

Год издания: 2016

Издательство: Казахский национальный университет им. аль-Фараби

Автор: Ивель В.П., Мутанов Г.М.

Год издания: 2012

Издательство: Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ

Автор: Шпиганович А.Н., Шурыгин Ю.А.

Год издания: 2013

Издательство: Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана

Автор: Бурый Е.В., Ситников А.В.

Год издания: 2009

Издательство: Логос, Университетская книга

Автор: Тарасов В.В., Якушенков Ю.Г.

Год издания: 2007

С этой книгой также читают

Автор: Овчинникова Т.С., Черная О.В., Баряева Л.Б.

Год издания: 2010

Издательство: Вузовское образование

Автор: Белкин П.Н., Шадрин С.Ю.

Год издания: 2013

Издательство: Оренбургская государственная медицинская академия

Автор: Сетко А.Г., Мокеева М.М., Чернов В.А., Михайлов С.Н., Сетко И.М.

Год издания: 2012

Издательство: Дашков и К

Автор: Липский И.А., Сикорская Л.Е., Прохорова О.Г.

Год издания: 2014

Издательство: Юридический центр Пресс

Автор: Андреев Ю.Н.

Год издания: 2008

Просмотр оглавления издания

Бесплатная горячая линия

8 800 555 22 35

е-mail: sale@iprmedia.ru, adm@iprmedia.ru

Доступ к фондам ЭБС IPRbooks предоставляется круглосуточно.

410012, г. Саратов, ул. Вавилова, 38/114, офисы 425, 428, 1019

Тел./факс: 8 (8452) 24-77-97, 24-77-96

Мы в социальных сетях:

Отдел комплектования ЭБС IPRbooks:

Отдел продаж и внедрения ЭБС IPRbooks:

доб. 206, 213, 144, 145

Установка кнопки на ваш сайт:

Инструкция по установке кнопок электронно-библиотечной системы «IPRbooks»

Для установки одной из кнопок ЭБС «IPRbooks» на свой сайт, скопируйте код из соответствующего поля и поместите его в необходимом месте на вашем сайте.

© ЭБС IPRbooks, ООО «Ай Пи Эр Медиа», электронное периодическое издание «www.iprbookshop.ru» 16+

Эл. №ФС77-43102 от 20.12.2010 / ISSN 2227-8397

Источник:

www.iprbookshop.ru

Книга Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике (2011) PDF скачать бесплатно в формате pdf fb2 txt

Скачать Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике (2011) PDF

Доброго времени суток. Вы попали на интересный портал Sonic002.ucoz.ru. Не спешите покидать сайт после скачивания, у нас вы сможете найти много интересных материалов - софт, игры, фильмы, мультфильмы, антивирусы, музыка, книги, всё для телефона и фотошопа. И это не всё, что есть у нас. Рекомендуем начать просмотр с главной страницы. Так же заходите на форум, где вы можете пообщаться с другими пользователями. Не забудьте написать отзыв о сайте. Попав на эту страницу вы, скорее всего, хотите скачать файл Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике (2011) PDF бесплатно. Надеемся, это у вас получится. Если не знаете, как качать с фалообменников бесплатно, то лучше в интернете найти инструкцию. Очень часто такую информацию выкладывают даже в виде видео, где всё ясно и доходчиво объясняют. В крайнем случае, вы можете оставить комментарий на этом сайте и мы постараемся вам помочь.

Автор: Афонский А.А., Дьяконов В.П.

Год выпуска: 2011

Жанр: Техническая литература, Электроника

Издательство: ДМК Пресс

Количество страниц: 688

Размер файла: 46 MB

Скачать Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике (2011) PDF:

Похожие файлы: Комментарии

Войти через uID

*Внимание! При вводе логина/пароля, скачивание, либо установка файла платные. Ответственность за любые ссылки на посторонние ресурсы возлагается на журналистов.

Источник:

sonic002.ucoz.ru

Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике в городе Казань

В представленном каталоге вы имеете возможность найти Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике по доступной стоимости, сравнить цены, а также найти другие предложения в категории Наука и образование. Ознакомиться с параметрами, ценами и обзорами товара. Доставка производится в любой населённый пункт России, например: Казань, Краснодар, Новокузнецк.